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  1. V. Malina; E. Hajkova; J. Zelinka; Maurizio Dapor; Victor Micheli,
    Non-alloyed Ti/Au and Ti/Pt/Au ohmic contacts to p-type InGaAsP,
    in «THIN SOLID FILMS»,
    vol. 223,
    , pp. 146 -
    153
  2. Maurizio Dapor,
    Mean energy and depth of penetration of electrons backscattered by solid targets,
    in «APPLIED SURFACE SCIENCE»,
    vol. 70/71,
    , pp. 327 -
    331
  3. Maurizio Dapor,
    Backscattering of electrons from multilayers,
    in «PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER»,
    vol. 48,
    , pp. 3003 -
    3008
  4. Fausto Giunchiglia; Paolo Traverso; Alessandro Cimatti; Luca Spalazzi; Sandro Dalbosco; Luciano Serafini; Enrico Giunchiglia; Alessandro Armando; Paolo Pecchiari,
    MRG: sistema di ragionamento,
    in «AUTOMAZIONE E STRUMENTAZIONE»,
    vol. 9,
    , pp. 97 -
    103
  5. Fausto Giunchiglia; Paolo Traverso; Alessandro Cimatti; Luca Spalazzi; Sandro Dalbosco; Luciano Serafini; Enrico Giunchiglia; Alessandro Armando; Paolo Pecchiari,
    MRG: un nucleo di ragionamento per un sistema integrato multifunzionale,
    in «SISTEMI INTELLIGENTI»,
    vol. 3,
    , pp. 435 -
    460
  6. Sandro Solmi; P. Maccagnani; Roberto Canteri,
    Codiffusion of Arsenic and Phosphorus Implanted Silicon,
    in «JOURNAL OF APPLIED PHYSICS»,
    vol. 74,
    , pp. 5005 -
    5012
  7. Roberto Brunelli; T. Poggio,
    Caricatural Effects in Automated Face Perception,
    in «BIOLOGICAL CYBERNETICS»,
    vol. 69,
    , pp. 235 -
    241
  8. Roberto Brunelli; T. Poggio,
    Face Recognition: Features versus Templates,
    in «IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE»,
    vol. 15,
    n. 10,
    , pp. 1042 -
    1052
  9. L. Calliari; M. Anderle; M. Ceschini; L. Pavesi; G.Mariotto; O. Bisi,
    Electron bombardement effects on light emitting porous Silicon,
    in «JOURNAL OF LUMINESCENCE»,
    vol. 57,
    , pp. 83 -
    87
  10. M. Sarkar; L. Calliari; L. Gonzo; F. Marchetti,
    Auger depth-profiling of silicon dioxide on silicon: a Factor Analysis study,
    in «SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS»,
    vol. 20,
    , pp. 60 -
    68